STS 717 - Statik Test System 717
- Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen
- Alle Anwendungsbereiche der einzelnen Geräte
- Sperrstrommessung
- Durchlassmessung
- Leckstrommessung
- Gate-Stress-Generator
Merkmale
- Modulares Testsystem zur Prüfung statischer Merkmale von Leistungshalbleitern in Produktion und Qualitätssicherung
- Umfangreiche, frei konfigurierbare Schaltmatrix, aufgebaut mit 70 Power- und 70 Sense-Kanälen
- Unterstützung der typischen Messmethoden für Dioden, Thyristoren, IGBTs, MOSFET und SiC-Mos
- Modulares Generatorkonzept zur einfachen Anpassung an spezielle Anforderungen
- Standard- Messgeräte/ -Generatoren bis 1.400 A bei 40 V und 3.000 V bei 20 mA
- Übersichtliches Bedienprogramm zur Programmierung von umfangreichen Messanläufen und Protokollierung von Produktionslosen
- Inkl. Kalibriermodul zur einfachen Rückführung
Datenblatt
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Anfrage zum Gerät
Beschreibung
Das Testsystem STS 717 dient zur Prüfung von Leistungshalbleitern und Leistungshalbleitermodulen.
Das System umfasst bis zu 6 Komponenten und kann je nach Messanforderung in der Zusammenstellung variiert werden.
Die Standardausführung ist zur Prüfung von Modulen mit bis zu 69 Kontakten ausgelegt und besteht aus den folgenden Komponenten:
1. Messstellenumschalter MU 625
2. Funktionsauswahlschalter FS 717
3. Sperrspannungsmessgerät BVM 625
4. Durchlassmessgerät FVM 625
5. Leckstrommessgerät LCM 625
6. Gate-Stress-Generator GSG 664
Die Steuerung des Messsystems erfolgt über einen PC, verbunden mit einer seriellen Schnittstelle.
Ein nutzerfreundliches Messprogramm erlaubt die einfache Erstellung von Messabläufen bis hin zur ergebnisabhängigen Klassifizierung der Messobjekte.