STS 717 - TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTORS

STS 717 - TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTORS

Features

  • Modulares Testsystem zur Prüfung statischer Merkmale von Leistungshalbleitern in Produktion und Qualitätssicherung
  • Umfangreiche, frei konfigurierbare Schaltmatrix, aufgebaut mit 70 Power- und 70 Sense-Kanälen
  • Unterstützung der typischen Messmethoden für Dioden, Thyristoren, IGBTs, MOSFET und SiC-Mos
  • Modulares Generatorkonzept zur einfachen Anpassung an spezielle Anforderungen
  • Standard- Messgeräte/ -Generatoren bis 1.400 A bei 40 V und 3.000 V bei 20 mA
  • Übersichtliches Bedienprogramm zur Programmierung von umfangreichen Messanläufen und Protokollierung von Produktionslosen
  • Inkl. Kalibriermodul zur einfachen Rückführung

Data Sheet

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Product Inquiry

Application Areas

→ Laboratory→ Production→ Quality Assurance→ Reverse voltage→ Reverse current→ Switching matrix→ Gate leakage current, gate stress, gate charge→ Forward voltage

Description

  • Testing of power semiconductors and power semiconductor modules
  • All application areas of the individual devices
  • Reverse current measurement
  • Forward current measurement
  • Leakage current measurement
  • Gate stress generator

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