Unsere Messgeräte & Prüfsysteme
Innovative Messtechnik für Leistungshalbleiter seit 1960
Gerätekategorien
Labor
Kennlinienmessgeräte - wenn es um mehr als nur einen Datenblatt-Wert geht.
Produktion
Messtechnik - unser Maßstab ist nicht das, was technisch machbar ist, sondern das, was für die Produktion sinnvoll ist. Praxistaugliche Lösungen für anspruchsvolle Messaufgaben von nA und µV bis kA und kV.
Qualitätssicherung
Die Produktqualität ist heute das Maß der Dinge und deren Nachweis oft ein wesentliches Verkaufsargument. Wir liefern die Werkzeuge zur Prüfung der Lebensdauererwartung Ihrer Module - Lastwechselzyklen und Hochtemperatursperrlagerung, parametrierbar und fernbedienbar, passend auch für Ihre Technologie.
Lastwechselprüfplatz
Unsere Lastwechselprüfplätze prüfen die **thermomechanische Lebensdauer** von Leistungshalbleitermodulen — automatisiert, über Wochen und Monate, ohne Benutzereingriff. Das System überwacht jeden Prüfling einzeln, erkennt Degradation frühzeitig und dokumentiert den gesamten Testverlauf lückenlos. ### Was getestet wird Ein Laststrom heizt den Chip auf, beim Abschalten kühlt er ab. Diese Temperaturzyklen erzeugen mechanische Spannungen an den Materialübergängen im Modul — insbesondere an **Bonddrähten**, **Lotschichten** und der **Chipmetallisierung**. Der Test provoziert genau die Ausfallmechanismen, die auch im realen Betrieb auftreten, nur beschleunigt. Zwei Testmodi decken unterschiedliche Schwachstellen ab: - **Kurze Zyklen (PCsec):** Sekundenschnelle Heizpulse belasten vor allem Bonddrähte und Chipoberfläche - **Lange Zyklen (PCmin):** Minutenlange Aufheizung prüft tieferliegende Lotschichten und die Gehäuseanbindung ### Gebaut für den Dauerbetrieb Schuster Elektronik hat über Jahrzehnte Lastwechselprüfplätze für Kunden in der **Modulentwicklung**, **Qualitätssicherung** und **Produktionsbegleitung** gebaut — in Europa, Nordamerika und Asien. Unsere Systeme laufen typischerweise im 24/7-Betrieb über mehrere Wochen — SPS-gesteuert, mit automatischer Grenzwertüberwachung und Fernzugriff über das Netzwerk. Bei Auffälligkeiten wird der Bediener per E-Mail benachrichtigt, ohne dass jemand vor dem Gerät stehen muss. ### Unsere Systeme im Überblick - Lastströme von **10 A bis 2000 A** - Bis zu **36 Prüfplätze** pro System in unabhängigen Strängen - Automatischer Zth-Vergleich mit VCE(T)-Methode - Geeignet für **IGBT, MOSFET, SiC-MOSFET, Dioden und Thyristoren** - Netzwerk-Schnittstelle für Remote-Monitoring und Datenexport - Ausgelegt für **AQG 324** (PCsec und PCmin)
HTRB, HTGB, H3TRB
Unsere HTRB-Prüfsysteme prüfen die **langfristige Zuverlässigkeit** von Leistungshalbleitern unter extremen Bedingungen — hohe Temperatur, hohe Spannung, Feuchtigkeit. Die Systeme laufen autonom über **1.000 Stunden und mehr**, überwachen jeden Prüfling einzeln und dokumentieren den gesamten Testverlauf. Drei Testverfahren decken dabei unterschiedliche Schwachstellen auf. ### HTRB — Sperrspannung unter Dauerbelastung Der Prüfling wird bei 150 – 230 °C mit seiner maximalen Sperrspannung belastet. Über 1.000 Stunden zeigt sich, ob die Sperrschicht stabil bleibt oder ob Leckströme ansteigen. Typische Schwachstellen: Verunreinigungen an der Chipoberfläche, Defekte im Randabschluss und Alterung der Passivierung. Unser System misst den Sperrstrom jedes einzelnen Kanals kontinuierlich — Auffälligkeiten werden sofort erkannt. ### HTGB — Gate-Oxid unter Stress Hier wird nicht die Sperrspannung geprüft, sondern das Gate-Oxid: maximale Gate-Spannung bei maximaler Temperatur. Der Test zeigt, ob sich die Einschaltschwelle des Bauteils über die Zeit verschiebt. Besonders bei **SiC-Bauteilen** ist dieser Test entscheidend — die Grenzfläche zwischen SiC und Gate-Oxid ist empfindlicher als bei Silizium und reagiert stärker auf Dauerstress. Mit unabhängigen Gate-Spannungsquellen pro Kanal können Sie HTRB und HTGB auf **derselben Plattform** fahren — ohne Hardware-Umbau zwischen den Tests. ### H3TRB — Feuchtigkeit als Stressfaktor Der Prüfling wird bei 85 °C und 85 % relativer Luftfeuchtigkeit mit Sperrspannung belastet. Die Kombination aus Wärme, Feuchtigkeit und elektrischem Feld kann über Monate zu Korrosion und Kurzschlüssen im Inneren des Bauteils führen — Fehlermechanismen, die in trockener Laborumgebung nie auftreten. ### Gebaut für den Dauerbetrieb Schuster Elektronik baut seit Jahrzehnten Prüfsysteme für die **Halbleiterqualifizierung** — für Modulhersteller, Zulieferer und Prüflabore in Europa, Nordamerika und Asien. Unsere Systeme sind auf wochenlangen autonomen Betrieb ausgelegt: - Prüfspannung bis **±2.000 V** (Si, SiC, GaN) - **18 Einzelprüflinge** oder **9 Halbbrücken-Module** pro Station - Sperrstrommessung bis 300 mA pro Kanal - Temperaturmessung bis 200 °C direkt am Prüfling - Modular erweiterbar auf über 10 Stationen - Automatische Grenzwertüberwachung mit sofortiger Abschaltung - **Netzwerk-Schnittstelle** für Fernüberwachung und Datenexport - Konform mit gängigen Qualifizierungsstandards (AQG 324, AEC-Q101, JEDEC)
Unser Produktkatalog
Zeige 46 Produkte
Messgeräte nach Verwendungsziel
Messysteme
Messgeräte nach Messgrößen
BVM 625
SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT
BVM 729
BVM 729 Kennlinienmessgerät
BVM 738
SPERRSPANNUNGSTESTER FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
DM 659
DM 659 Durchlass-Kennlinienmessgerät
DM 678
DURCHLASSMESSGERÄT UND MESSSTELLENUMSCHALTER
DM 714
DURCHLASSMESSGERÄT
DM 725
DURCHLASSMESSGERÄT
DM 736
DURCHLASSMESSGERÄT
DM 821
DURCHLASSMESSGERÄT
DQA 775
DURCHLASS-, GATE-LADUNGS-, UND AVALANCHE-MESSGERÄT
DT 616
DT 616 Diodenprüfgerät
DTS 761
TESTSYSTEM FÜR DYNAMISCHE EIGENSCHAFTEN VON LEISTUNGSHALBLEITERN
DVDT 736
PRÜFGERÄT FÜR dv/dt – VERHALTEN VON THYRISTOREN
FVM 625
DURCHLASSMESSGERÄT
GSG 664
GATE-STRESS-GENERATOR
HTRB 689
PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATUR-SPERR-LAGERUNG
HTRB 782
PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATURSPERRLAGERUNG
HTRB 784
PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATURSPERRLAGERUNG
IP 625
ISOLATIONSPRÜFGERÄT
IP 630
ISOLATIONSPRÜFGERÄT
JT 777
JEDEC TESTER FÜR DIODEN
KKM 740
KABEL- KAPAZITÄTS- MESSGERÄT
KML 710
SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
KTM 604
KAPAZITÄTSTOLERANZMESSBRÜCKE FÜR GROSSE LEISTUNGSKONDENSATOREN
LCM 625
LECKSTROMMESSGERÄT FÜR IGBTS UND MOS-TRANSISTOREN
LRT 640
Widerstandsmessgerät für Niederohm-Widerstände
LRT 703
LOW RESISTANCE TESTER
MLH 634
MESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
MU 625
MESSSTELLENUMSCHALTER
MU 746
Der Messstellenumschalter MU 746 ist ein wesentlicher Bestandteil des Messsystems für Leistungshalbleiter TSP 746. Er di...
SML 664
SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
SML 726
SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
STS 717
TESTSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
STS 805
TESTSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
TLW 739
TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN
TLW 763
TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN
TLW 800
TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN
TLW 813
TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERN
TLW 820
TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN
TPS 625
PRÜFSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
TPS 746
PRÜFSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
TSM 664
TESTSYSTEM FÜR STATISCHE MESSUNGEN AN LEISTUNGSHALBLEITERN
TSM 738
Prüfsystem für Leistungshalbleiter
WM 694
WÄRMEWIDERSTANDSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
ZEH 634
ZÜND-, EINRAST- UND HALTESTROM- MESSGERÄT
ZTH 749
WÄRMEWIDERSTANDSMESSPLATZ FÜR LEISTUNGSHALBLEITER
| Bezeichnung | Beschreibung |
|---|---|
| BVM 625 | SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT |
| BVM 729 | BVM 729 Kennlinienmessgerät |
| BVM 738 | SPERRSPANNUNGSTESTER FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| DM 659 | DM 659 Durchlass-Kennlinienmessgerät |
| DM 678 | DURCHLASSMESSGERÄT UND MESSSTELLENUMSCHALTER |
| DM 714 | DURCHLASSMESSGERÄT |
| DM 725 | DURCHLASSMESSGERÄT |
| DM 736 | DURCHLASSMESSGERÄT |
| DM 821 | DURCHLASSMESSGERÄT |
| DQA 775 | DURCHLASS-, GATE-LADUNGS-, UND AVALANCHE-MESSGERÄT |
| DT 616 | DT 616 Diodenprüfgerät |
| DTS 761 | TESTSYSTEM FÜR DYNAMISCHE EIGENSCHAFTEN VON LEISTUNGSHALBLEITERN |
| DVDT 736 | PRÜFGERÄT FÜR dv/dt – VERHALTEN VON THYRISTOREN |
| FVM 625 | DURCHLASSMESSGERÄT |
| GSG 664 | GATE-STRESS-GENERATOR |
| HTRB 689 | PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATUR-SPERR-LAGERUNG |
| HTRB 782 | PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATURSPERRLAGERUNG |
| HTRB 784 | PRÜFANLAGE FÜR HOCHTEMPERATURSPERRLAGERUNG |
| IP 625 | ISOLATIONSPRÜFGERÄT |
| IP 630 | ISOLATIONSPRÜFGERÄT |
| JT 777 | JEDEC TESTER FÜR DIODEN |
| KKM 740 | KABEL- KAPAZITÄTS- MESSGERÄT |
| KML 710 | SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| KTM 604 | KAPAZITÄTSTOLERANZMESSBRÜCKE FÜR GROSSE LEISTUNGSKONDENSATOREN |
| LCM 625 | LECKSTROMMESSGERÄT FÜR IGBTS UND MOS-TRANSISTOREN |
| LRT 640 | Widerstandsmessgerät für Niederohm-Widerstände |
| LRT 703 | LOW RESISTANCE TESTER |
| MLH 634 | MESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| MU 625 | MESSSTELLENUMSCHALTER |
| MU 746 | Der Messstellenumschalter MU 746 ist ein wesentlicher Bestandteil des Messsystems für Leistungshalbleiter TSP 746. Er di... |
| SML 664 | SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| SML 726 | SPERRSPANNUNGSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| STS 717 | TESTSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| STS 805 | TESTSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| TLW 739 | TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN |
| TLW 763 | TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN |
| TLW 800 | TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN |
| TLW 813 | TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERN |
| TLW 820 | TESTSYSTEM FÜR LASTWECHSELFESTIGKEIT VON HALBLEITERMODULEN |
| TPS 625 | PRÜFSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| TPS 746 | PRÜFSYSTEM FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| TSM 664 | TESTSYSTEM FÜR STATISCHE MESSUNGEN AN LEISTUNGSHALBLEITERN |
| TSM 738 | Prüfsystem für Leistungshalbleiter |
| WM 694 | WÄRMEWIDERSTANDSMESSGERÄT FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
| ZEH 634 | ZÜND-, EINRAST- UND HALTESTROM- MESSGERÄT |
| ZTH 749 | WÄRMEWIDERSTANDSMESSPLATZ FÜR LEISTUNGSHALBLEITER |
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