ZTH 749 - Wärmewiderstandsmessplatz
- Schnelle und reproduzierbare Messung des R**th** und Z**th** in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Komponenten des ZTH- Ersatzschaltbilds
- Zur Untersuchung des Verhaltens von Leistungshalbleitern während der Entwicklungs- und Entwurfsphase
Merkmale
- Laststrom 3 x 10 bis 400 A bei einer Spannung von bis zu 15 V, verwendbar als 3 Einzelquellen oder eine Summenquelle
- Geeignet für SCR, Dioden, IGBT- und MOSFET Einfach- und Mehrfachmodule
- Aufnahme der Abkühlkurven von bis zu 6 Bauteilen, inklusive Foster Approximation, zur Berechnung von ZTH- Ersatzschaltbildern
- Bietet ZTH- Kurzzeitmessungen (ab 100 ms) bis zu Langzeitmessungen > 10 Sekunden
- Mit diversen Temperaturmesseingängen, zur automatischen Ermittlung von TK- Kennlinien
- Integrierter PC für Systemkontrolle, Datenspeicherung und graphische Analysen
- Steuerung eines externen Heiz-/ Kühlaggregats
Beschreibung
Der Wärmewiderstandsmessplatz ZTH 749 dient zur Ermittlung von Wärmewiderständen an Leistungshalbleitern.
Die Messung des thermischen Widerstandes von Leistungshalbleitern wird durch eine relativ gut definierte Temperaturabhängigkeit des Spannungsabfalls in Durchlassrichtung bei kleinen Stromdichten ermöglicht.
Dieser Temperaturkoeffizient liegt in der Größenordnung von -2 mV/K und streut in der Regel bei Bauteilen des gleichen Herstellungsprozesses nur wenig.
Zur exakten Bestimmung der Sperrschichttemperatur wird der Halbleiter vor (Kalt-Punkt) und nach (Heiß-Punkt) einem Leistungsimpuls gemessen. Die daraus gewonnene Geradenfunktion wird für die Berechnung von Rth und Zth benutzt.
Das Messgerät wird über einen PC bedient. Die ausgewählten Testparameter und die Testergebnisse werden automatisch für die spätere Nachbearbeitung und Analyse im PC gespeichert. Die abgespeicherten Daten können auch in eine Excel®-Datei exportiert werden.