ZTH 749 - Wärmewiderstandsmessplatz
- Schnelle und reproduzierbare Messung des R**th** und Z**th** in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Komponenten des ZTH- Ersatzschaltbilds
- Zur Untersuchung des Verhaltens von Leistungshalbleitern während der Entwicklungs- und Entwurfsphase
Features
- Laststrom 3 x 10 bis 400 A bei einer Spannung von bis zu 15 V, verwendbar als 3 Einzelquellen oder eine Summenquelle
- Geeignet für SCR, Dioden, IGBT- und MOSFET Einfach- und Mehrfachmodule
- Aufnahme der Abkühlkurven von bis zu 6 Bauteilen, inklusive Foster Approximation, zur Berechnung von ZTH- Ersatzschaltbildern
- Bietet ZTH- Kurzzeitmessungen (ab 100 ms) bis zu Langzeitmessungen > 10 Sekunden
- Mit diversen Temperaturmesseingängen, zur automatischen Ermittlung von TK- Kennlinien
- Integrierter PC für Systemkontrolle, Datenspeicherung und graphische Analysen
- Steuerung eines externen Heiz-/ Kühlaggregats
Description
The test system ZTH 749 is designed to measure the thermal resistance within power semiconductors devices.
The measurement of the temperature increase in a pn- junction is enabled by the relatively defined temperature behaviour of the forward voltage at small current densities.
This temperature coefficient is typically in a range of -2 mV/K and the variance is small for sample DUTs taken from the same production run.
By measuring the junction temperature curve after load pulse, the RTH and Z**TH **parts of the power package can be calculated.
The test system is controlled by an industrial PC running a Windows based user friendly software package that allows fast operator understanding.
Test configurations are programmed at the PC which provides real-time displays via monitor.
The pre-selected test parameters and subsequent test results are automatically saved to the PC for further review and analysis. The stored data can also be exported into an csv-file.