HTRB 782 - HIGH TEMPERATURE REVERSE BIAS
- Lebensdauertests bei IGBT- und MOSFET-Modulen sowie Dioden
- Test von Einzelbauteilen und Halbbrücken
- Sperrspannungsüberprüfung
- Sperrstromüberprüfung
- Temperaturmessung und - Regelung
Merkmale
- Positive und negative Prüflingsanschlüsse zur Prüfung von Halbbrücken
- Sperrspannungsgenerator bis 2 kV bei max. 1 A
- Sperrstrommessung an bis zu 9 Kanälen mit max. 100 mA oder 6 Kanälen mit max. 150 mA oder 3 Kanälen mit 300 mA
- Temperaturmessung und -regelung an 9 Prüfplätzen
- Gate-Spannungen bis -20 V bei max. 20 mA
Beschreibung
Mit Hilfe des Testsystems HTRB 782 soll das Verhalten von Dioden, IGBT- und MOSFET-Modulen mit angelegter Sperrspannung bei max. Sperrschichttemperatur des Prüflings in einem Dauerversuch untersucht werden.
Die Überprüfung erfolgt mittels nachfolgenden Funktionen:
- Sperrspannungsgeneratoren, bis 2 000 V bei einem maximalen Spitzenstrom von 1 A - Sperrstrommessung an bis zu 9 Kanälen mit max. 100 mA; 6 Kanälen mit max. 150 mA; 3 Kanälen mit 300 mA - Temperaturmessung und -regelung an 9 Prüfplätzen - Gate-Spannungsquellen mit bis zu -20 V bei max. 20 mA Gate-Strom - Alle 9 Kanäle verfügen jeweils an der High- und an der Low-Side über eine Quelle. Wird der maximale Gate-Strom überschritten, so wird die Anlage abgeschaltet. - Messstromquellen und Spannungsmessung zur Temperaturmessung und -regelung über integrierte Diode des Prüflings - Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen / Aufzeichnungen der Daten - Inkl. Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse