TPS 746 - Test System for Power Semicondutor
- Prüfung von Leistungshalbleitern für die Bauteilprüfung in Produktion und Qualitätssicherung
- Klassifizierung von Halbleitermodulen
Features
- Modulares Testsystem zur Prüfung statischer Merkmale von Leistungshalbleitern in Produktion und Qualitätssicherung
- Umfangreiche, frei konfigurierbare Schaltmatrix, aufgebaut mit 70 Power- und 70 Sense-Kanälen
- Unterstützung der typischen Messmethoden für Dioden, Thyristoren, IGBTs, MOSFET und SiC-Mos
- Modulares Generatorkonzept zur einfachen Anpassung an spezielle Anforderungen
- Standard- Messgeräte/ -Generatoren bis 1.400 A bei 40 V und 3.000 V bei 20 mA
- Übersichtliches Bedienprogramm zur Programmierung von umfangreichen Messanläufen und Protokollierung von Produktionslosen
- Inkl. Kalibriermodul zur einfachen Rückführung
Data Sheet
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Product Inquiry
Description
The test system TPS 625 or 746 is used to test power semiconductors.
The TPS 625 enables the measurement of the common characteristics of power semiconductors with only one DUT contact assignment.
The system consists of maximum six components and can be varied depending on requirements. The standard equipment is intended to measure modules at up to 64 high current terminals and consists of the following components:
Trigger, ignition and holding current tester ZEH 634
Leakage current measurement unit LCM 625
Blocking voltage measurement unit BVM 625
Forward voltage measurement unit FVM 625
Multiplexer MU 625 / MU 746
The test system is controlled via serial interface. The comfortable measuring software allows the easy construction of measurement procedures and even the result-related classification of the DUTs.