TLW 739 - Lastwechselprüfstand für Module
- Thermische Langzeituntersuchungen zum Verhalten von Dioden, IGBT- und MOSFET-Modulen
- Lebensdauertest in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Rth-Veränderungen während der Bauteillebensdauer
- Qualifizierung von Bond- und Lötverfahren
- Produktqualifikation nach AQG 324
Features
- Laststromerzeugung bis 1.100 A bei max. 18 V
- Impulsdauer von 0,5 bis 300 s
- 3 Messstromquellen bis max. 200 mA (opt. 3.000 mA)
- 18 Messkanäle für Temperaturdioden mit bis zu 2 mA Messstrom (mit Thermoelement Typ K)
- Automatische Aufnahme von DUT-Temperaturkennlinien
- Temperaturmessung an 18 Prüfplätzen und 6 Strangtemperaturen
- Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen und Aufzeichnung der Daten
- Inkl. Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse
- Mit integriertem Industrie-PC zur Datensicherung und Auswertung
- Diverse Überwachungsfunktionen mit Warn- und Abschaltgrenzen
Data Sheet
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Product Inquiry
Description
The TLW 739 has been designed to verify the life cycle characteristics of up to 18 power semiconductor devices (IGBT, MOSFET, Thyristor and diode).
Testing is implemented with forward load current pulses that cause temperature changes and variations in the temperature gradient within the DUT.
With long term life cycle testing “fatigue” alterations of the DUT that influence the forward voltage drop, internal thermal resistance and gate controllability can be monitored and recorded. Any resulting damage of the solder or bonding connections can also be identified.
An external heat exchange unit provides DUT heating and cooling fully interfaced with the test systems control software.
Test result data is saved to the rack mounted PC and can be exported for further analysis.