TLW 763 - LOAD CYCLE TESTER FOR POWER SEMICONDUCTORS
- Lebensdauertest in Entwicklung und Qualitätssicherung
- Ermittlung von Rth-Veränderungen während der Bauteillebensdauer
- Qualifizierung von Bond- und Lötverfahren
- Bauteilqualifizierung nach AQG 324
Features
- Laststromerzeugung bis 1.000 A
- 18 Messstellen, angeordnet in drei Strängen mit je 6 Prüflingen
- Messstromquelle bis max. 1.000 mA, zur Ermittlung der Halbleitertemperaturen, inklusive automatischer Kalibrierkurvenermittlung
- Temperaturmessung an 18 Prüfplätzen und 3 Strangmessplätzen
- Steuerung zur automatischen Durchführung von Dauerversuchen, Aufzeichnung der Daten und Netzwerk-Schnittstelle zur Fernbetrachtung der Versuchsergebnisse
- Optional Aufzeichnung von Abkühlkurven und ZTH-Messung
- Schutzhaube mit Sicherheitszuhaltung
Description
The TLW 763 has been designed to verify the characteristics of power IGBT, MOSFET and diode modules used in power electronics during long term life cycle testing.
Testing is implemented with forward load current pulses that cause temperature changes and variations in the temperature gradient within the DUT.
With long term life cycle testing “fatigue” alterations of the DUT that influence the forward voltage drop, internal thermal resistance and gate controllability can be monitored and recorded. Any resulting damage of the solder or bonding connections can also be identified.
An external heat exchange unit provides DUT heating and cooling fully interfaced with the test systems control software.
Test result data is saved to the rack mounted PC and can be exported for further analysis.